商品詳情
產(chǎn)品說明
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。
產(chǎn)品特征
軟件功能及報告輸出格式
1、可以對圖像進行多項處理:如:影像增強、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖
4、WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結(jié)合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。
5、該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析，具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。
技術參數(shù)
儀器型號 | WKL-702 |
測量范圍 | 0.1～3000（微米） |
總放大倍數(shù) | 8000倍 |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復性 | 誤差≤±1％ |
自動分割速度 | ≤1秒 |
數(shù)字攝像機(CCD) | 500萬像素 |
數(shù)據(jù)儲存 | 電腦另配 |
通信接口 | USB |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
電源 | AC220V ±10％ 200W |
儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
儀器凈重 | 15kg |